Implementarea eficientă a unei protecţii fiabile împotriva seismelor: utilizarea șuruburilor cu bile pentru protecţia clădirilor și podurilor
aprilie 27, 2021
Noi modalităţi de prelucrare a transmisiilor
mai 11, 2021
 

 

NIKON XT H 225 ST 2x

CEL MAI NOU ECHIPAMENT X-RAY DEZVOLTAT DE NIKON METROLOGY


TOP Metrology are plăcerea de a anunța lansarea noului echipament X-Ray - microfocus de 225kV (tomografie computerizată industrială), „XT H 225 ST 2x” dezvoltat de Nikon Metrology.

Nikon a adus îmbunătățiri excepționale noului „XT H 225 ST 2x”. Două dintre caracteristici nu se regăsesc pe niciun alt sistem industrial CT. Unul este „Rotating.Target 2.0”, care oferă o răcire mai eficientă si conduce la o îmbunătățire a punctului focal, acesta fiind de 3 ori mai mic, oferind imagini mult mai clare. Cealaltă, „Half.Turn CT”, este o metodă nouă ce permite scanarea unei piese cu o rotație de doar 180 ̊, accelerând procesul de scanare fără pierderea calității imaginii.

„XT H 225 ST 2x” permite inspecția și măsurarea nedistructivă atât a exteriorului, cât și a interiorului unei probe. Nikon oferă o gamă largă de sisteme de inspecție CT cu raze X de înaltă rezoluție, cu o tehnologie unică a surselor de raze X microfocus.

TOP METROLOGY S.R.L.
Blvd. Iuliu Maniu Nr.7‐11
Complex Apaca
Sector 6, București
Tel: +40 746.608.707; Fax: +40 37.810.5808
office@topmetrology.ro / www.topmetrology.ro