TOP METROLOGY – NIKON XT H 225 ST 2x

TOP Metrology are plăcerea de a anunţa lansarea noului echipament X‐Ray ‐ microfocus de 225kV (tomografie
computerizată industrială), „XT H 225 ST 2x” dezvoltat de Nikon Metrology.
Nikon a adus îmbunătăţiri excepţionale noului „XT H 225 ST 2x”. Două dintre caracteristici nu se regăsesc pe niciun
alt sistem industrial CT. Unul este „Rotating.Target 2.0”, care oferă o răcire mai eficientă si conduce la o îmbunătăţire
a punctului focal, acesta fiind de 3 ori mai mic, oferind imagini mult mai clare. Cealaltă, „Half.Turn CT”, este o metodă
nouă ce permite scanarea unei piese cu o rotaţie de doar 180 ̊, accelerând procesul de scanare fără pierderea calităţii
imaginii.
„XT H 225 ST 2x” permite inspecţia și măsurarea nedistructivă atât a exteriorului, cât și a interiorului unei probe.
Nikon oferă o gamă largă de sisteme de inspecţie CT cu raze X de înaltă rezoluţie, cu o tehnologie unică a surselor de
raze X microfocus.